冬天硬盤更受傷：硬盤在低溫下的故障機(jī)制 - 五、溫度梯度的影響

作者：香農(nóng)青島數(shù)據(jù)恢復(fù)中心 2010-01-04 15:40

溫度梯度——溫度變化速度過大也會造成硬盤發(fā)生相似的故障。硬盤運(yùn)轉(zhuǎn)時對溫度梯度的要求一般不應(yīng)大于20 °C/小時。如果在(香農(nóng)青島數(shù)據(jù)恢復(fù)中心)冬季你使用硬盤從朋友處或工作單位拷貝了一些數(shù)據(jù)，然后回到家接上硬盤并開始工作，那么硬盤就會發(fā)生故障了——這被稱為熱沖擊。可以設(shè)想一下，冬季室外的溫度一般在零度以下，而硬盤工作時溫度會迅速上升到40 °C——60 °C（這還是在散熱良好的條件之下），如此劇烈的溫度變化就會導(dǎo)致硬盤的機(jī)械部分發(fā)生移位或碰撞，從而導(dǎo)致硬盤的損壞。

熱沖擊導(dǎo)致硬盤發(fā)生故障的機(jī)制與低溫導(dǎo)致硬盤發(fā)生故障的機(jī)制稍有不同。在熱沖擊的作用下，硬盤各機(jī)械部件會由于受熱不均勻而產(chǎn)生變形或移位，例如，磁頭在尋址定位時就會產(chǎn)生位置誤差（PES）或周期性的偏離（RRO）。硬盤運(yùn)轉(zhuǎn)時固有的位置誤差（PES）或周期性偏離是通過使用校準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償?shù)?，但是熱沖擊造成的機(jī)械移位使校準(zhǔn)參數(shù)與實(shí)際不符，從而使硬盤無法進(jìn)行正確的讀寫操作。熱沖擊對硬盤造成的損壞可以是暫時的，也可以是永久的。

圖十：由于熱沖擊導(dǎo)致的周期性偏離（RRO）示意圖